Trap Level Spectroscopy in Amorphous Semiconductors

Mikla, Victor I. Mikla, Victor V.

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Éditeur
Elsevier Science Publishing Co Inc
Pages
128
Parution
juin 2010
Format
Cartonné
Langue
Anglais
Dimensions
229 × 152 × 10 cm
EAN
9780123847157
  • Résumé

Discusses not only the most used spectroscopic techniques of amorphous semiconductors, but also describes their advantages and disadvantages. This book provides information on the most common spectroscopic techniques.
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