Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Wang, Zhong Lin

CHF 91.80
Alerter avant parution Précommander Ajouter au panier Ajouter e-book

Livrable entre 2 et 6 semaines environ

Éditeur
Cambridge University Press
Pages
460
Parution
août 2005
Format
Livre broché
Langue
Anglais
Dimensions
247 × 174 × 24 cm
EAN
9780521017954
  • Résumé

Self-contained book on electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies.
Bio de l'auteur
Sommaire / contenu
Nous vous suggérons aussi
Astrophysics for People in a Hurry Tyson, Neil deGrasse CHF 25.90
The Square and the Tower Ferguson, Niall CHF 29.90
Wine Chemistry and Biochemistry Collectif CHF 270.30
Physics Devotional, The: Celebrating the Wisdom and Beauty of Physics Pickover, Senior Scientist Clifford A, Ph.D. (IBM T. J. Watson Research Center IBM Thomas J. Watson Research Center IBM CHF 24.20
Star Names: Their Lore and Meaning Allen, Richard Hinckley CHF 21.10
Retour en haut de page