Materials Science in Microelectronics II: The Effects of Structure on Properties in Thin Films

Machlin, Eugene

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Éditeur
Elsevier Science Ltd
Pages
228
Parution
novembre 2005
Format
Cartonné
Langue
Anglais
Dimensions
228 × 152 × 19 cm
EAN
9780080446394
  • Résumé

Looks at the importance of thin films to microelectronic development. This title examines the effect of structure on: electrical properties; magnetic properties; optical properties; mechanical properties; mass transport properties; interface and junction properties; defects and properties.
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