ESD: Failure Mechanisms and Models

Voldman, Steven Howard

Ouvrage indisponible

Éditeur
Wiley-Blackwell (an imprint of John Wiley & Sons Ltd)
Pages
408
Parution
juillet 2009
Format
Cartonné
Langue
Anglais
Dimensions
252 × 176 × 27 cm
EAN
9780470511374
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  • Résumé

* Provides a comprehensive analysis of ESD failure mechanisms over a wide range of semiconductor materials, devices, circuits and applications. * Sets out methods for eliminating failure mechanisms through workable circuit solutions, including practical examples of failure defects.
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