Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

Collectif

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Éditeur
Cambridge University Press
Pages
408
Parution
novembre 2006
Format
Livre broché
Langue
Anglais
Dimensions
247 × 174 × 21 cm
EAN
9780521031707
  • Résumé

A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors.
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